【专利】一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置

发布者:方仪发布时间:2018-11-19浏览次数:352

本实用新型公开了一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置,包括外罩,所述外罩内设有载物台,所述载物台上方设有X射线发生器,所述载物台正前方设有分析晶体,所述分析晶体前设有计数管,所述载物台上沿中心线对称设有样品夹,所述样品夹之间夹有两个样品板,所述样品夹之间的载物台部分镂空,所述载物台镂空部分后设有激光打码器,所述激光打码器连接有路由器,所述计数管连接有光电耦合开关输入端,所述光电耦合开关输出端连接有PIC单片机,所述PIC单片机还连接有WIFI模块,所述WIFI模块连接路由器,所述路由器连接有主机,本实用新型利用条形码和实验数据一一对应并及时传送到主机,利于数据的大量处理和高效运作。

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